Líderes mundiales en metrología se dieron cita en Nueva Zelanda

Cerca de 120 de expertos en metrología provenientes de 70 países se reunieron en Auckland, Nueva Zelanda, los pasados 3, 4, 5 y 6 de noviembre en la 49° Asamblea  de la Organización Internacional de Metrología Legal (OIML).

Stephen O’Brien, director del área normativa del Ministerio de Negocios, Innovación y Empleo de Nueva Zelanda dijo: “la Metrología Legal brinda regulación para el control  de las mediciones y los instrumentos de medición. Un buen sistema legal de metrología permite a los consumidores confiar en sus productos que compran y al tiempo crea una economía productiva”.

Según explicó O’Brien, en la industria se toman importantes decisiones con base en la metrología, y en gran medida, esto determina el curso de la economía y el bienestar de la misma. “Una sociedad que funciona bien reposa en la confianza, la exactitud y la transparencia de los procesos de metrología”.

La OIML propende para que las industrias y diferentes economías cuenten con el respaldo de sistemas legales de metrología efectivos y compatibles, propiciando el la estandarización para general mejores relaciones de comercio internacional.