
Líderes mundiales en metrología se dieron cita en Nueva Zelanda
Líderes mundiales en metrología se dieron cita en Nueva Zelanda
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Cerca de 120 de expertos en metrología provenientes de 70 países se reunieron en Auckland, Nueva Zelanda, los pasados 3, 4, 5 y 6 de noviembre en la 49° Asamblea de la Organización Internacional de Metrología Legal (OIML).
Stephen O’Brien, director del área normativa del Ministerio de Negocios, Innovación y Empleo de Nueva Zelanda dijo: “la Metrología Legal brinda regulación para el control de las mediciones y los instrumentos de medición. Un buen sistema legal de metrología permite a los consumidores confiar en sus productos que compran y al tiempo crea una economía productiva”.
Según explicó O’Brien, en la industria se toman importantes decisiones con base en la metrología, y en gran medida, esto determina el curso de la economía y el bienestar de la misma. “Una sociedad que funciona bien reposa en la confianza, la exactitud y la transparencia de los procesos de metrología”.
La OIML propende para que las industrias y diferentes economías cuenten con el respaldo de sistemas legales de metrología efectivos y compatibles, propiciando el la estandarización para general mejores relaciones de comercio internacional.
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