Promocione sus productos o servicios con nosotros
Auburn Hills, MI, Estados Unidos - 08 de agosto de 2016

Mediciones en la línea de producción

La empresa Marposs presentará durante IMTS 2016 sus últimos avances en soluciones de medición Optoquick, que son sistemas de alta precisión diseñados para ambientes de piso de planta e integra tecnologías de sensores múltiples desarrolladas por esta firma, mismas que son empleadas para una amplia variedad de requerimientos de medición.

Estos equipos ayudan a los operadores de la línea de producción a tener un control de calidad más rápido y preciso de los ejes, directamente en un costado de las máquinas, con lo que se elimina cualquier desperdicio de tiempo en las operaciones y ayuda a incrementar la productividad. Gracias a la combinación de tecnologías ópticas táctiles, la unidad de medición Optoquick ofrece capacidades de medición superiores y mayor flexibilidad en los niveles más altos de su categoría. También, para cualquier medición típica como diámetros y radios.

Se puede inspeccionar de manera sencilla, ranuras clave y perfiles cóncavos, no disponibles en el análisis de formación de sombras. Estos equipos han sido pensados para manufactura flexible: amplios rangos de medición, capacidad para partes de hasta 1200 mm de longitud, contrapuntos motorizados para el cambio de partes y opciones de carga automáticas y manuales. Los programas de medición múltiples se pueden cargar en una sola máquina y permite que el operador tome lecturas de diferentes partes en secuencia con una simplicidad máxima, como si se escanearan códigos de barras, para activar de manera automática la configuración de medición correcta.

En IMTS, Booths E-5516 y S-8719.

Contactar ahora Agregar a la bolsa

Categoría de producto:
Otras máquinas-herramienta y equipos - Máquinas y equipos para inspección y medición - Comparadores, ópticos y otros
Palabras relacionadas:
Productos de Marposs en IMTS, novedades de Marposs en IMTS, oferta de Marposs, sistemas de medición en planta, programas de medición múltiple, sistemas de medición óptica.
x

Sección patrocinada por

Otras noticias de Metrología e inspección

Documentos relacionados